電子顕微鏡向けＦＩＢ技法Ｑ＆Ａの高価買取価格

本書は、電子顕微鏡を用いたナノテクノロジー研究において欠かせない試料作製技術である「FIB（集束イオンビーム）」および「イオンミリング」に特化した、日本顕微鏡学会関東支部編の実用的な解説書です。

研究現場で実際に直面する技術的な疑問や課題に対し、Q&A形式で専門家が詳しく回答しているのが特徴です。TEM（透過型電子顕微鏡）やSEM（走査型電子顕微鏡）の観察精度を左右する試料作製において、装置の基本原理から応用事例、トラブルシューティングまでを網羅しており、初学者から熟練の技術者まで幅広く活用できる内容となっています。

デバイスの微細化が進む現代の材料科学・半導体分野において、高品位な断面加工や薄膜作製は必須の技術です。本書はそれらのプロセスを理論と実践の両面からサポートするバイブル的一冊であり、研究室や技術部門に常備しておきたい貴重な資料です。絶版などで入手が難しくなることもある専門性の高い書籍であるため、中古市場でも高い需要が見込まれます。